mag3D Figure1 Figure2 Figure3 PRESENTATION SYMPOSIUM FRANCO FINLANDAIS SYMPOSIUM Problème des phases The phase problem DVD Semi-conducteur organométallique organosilicié TiO2-rutile SiO2-stishovite Cu2O-cuprite K2PtCl6 Be-metal bases and 3D views Bases et vues 3D Si-et-Ge CaF2-fluorite NbC-2023
3D-visualization of electronic charge density deformations in SiO2 -
Stishovite
Exemple d’application de
l’Analyse Directe Multipolaire de la densité électronique : Cas des
déformations dans SiO2-Stishovite
Abstract
Applied
to the A. Kirfel et al. (2001 (4)) data of
SiO2-stishovite, this analysis is conducted in the same way than the one on
TiO2-rutile. The site symmetry in SiO2-stishovite is identical to the one of
MgF2 J-P. Vidal et al. 1981(11)) and
TiO2-rutile.
First
of all, in order to have a correct reference model, a study of different atomic
factors shows that in case of Si4+, none of the literature is well
adapted to the data. For O2─, we take the Watson +2 well of Watson
(1958 (7)) and Sanger (1969 (8)) as usual.
Once
a convenient atomic factor was determined, we build a correct reference model
applying the criteria of K.
Kurki-Suonio (1977 (6)) based on the 0, 1 and 2 order δrlmp(r)
components of each ion.
After
this step, we can study the different multipolar components. The zeroth order
in the direct space gives the separability and the ionic state of each ion (Si4+
and O2─).
The
study in the reciprocal space δflmp(b) determines the significant
deviations of the multipolar components from the correct reference model in the
low order development. According to the angular behaviour of the spherical
harmonics, we can deduce the different charge transfers in the crystal.
The
visualization in real space acts as an useful illustration of the results. On
the basis of the results, we can say that the O2─ builds its own
lattice embedding the Si4+ in it.
Introduction
Des études sur SiO2-stishovite ont
été entreprises par N.L. Ross et al. (1990 (1)),
J. Mimaki et al. (2000 (2)), T. Yamanaka et al.
(2000 (3)),
A . Kirfel et al. (2001 (4)), T.
Yamanaka et al.(2002(5)),…
Reprenant le déroulement de l’étude
de TiO2, nous avons entrepris l’étude de SiO2 sous sa forme stishovite. Sous
cette forme, la symétrie cristalline est analogue à celle de TiO2 : P42/mnm.
Pour détecter de possibles
caractéristiques des densités électroniques du cristal, les données ont été
soumises à l’Analyse Directe Multipolaire qui étudie les densités de charge
atomique différences atome par atome.
Comme
pour TiO2, les critères physiques pour l’obtention des paramètres de
position et d’agitation thermique ont été appliqués.
Le système local direct (Fig.1) est
adapté à la symétrie de site de chaque atome et il est formé par les axes principaux
de l’ellipsoïde thermique. Il est identique pour MgF2, TiO2-rutile et
SiO2-stishovite.
Mise en place de l’Analyse Directe Multipolaire
L’analyse consiste essentiellement à
l’interprétation des différences entre les données Fobs et les
facteurs de structure théoriques du modèle de référence correct Fref
en terme de développement multipolaire.
Le modèle de référence correct doit
suivre des conditions mathématiques et des critères physiques pour être
compatible avec les grandeurs observées (K. Kurki-Suonio (1977 (6)).
1) Facteurs de diffusion atomique des ions du cristal
Pour obtenir des Fobs ─ Fref
les plus petits possibles, il faut utiliser des facteurs de diffusion atomique
adéquats. Etant donné nos études précédentes sur des oxydes, il ne fait aucun
doute que l’oxygène soit sous sa forme O2─, ce qui a pour
conséquence la présence de Si4+.
Pour O2─, l’ion à l’état
libre n’est pas stable, il requiert un potentiel extérieur pour être
stabilisé. En général, c’est le rôle des cations environnants qui permet la
stabilisation de O2─. Les facteurs de diffusion de Watson (+2well)
(1958 (7)) et Sanger (1969 (8)) ont donné des résultats corrects dès lors que
l’ion O2─ était concerné.
Garder le même facteur de diffusion atomique f
(b) pour l’oxygène permet de comparer le comportement de l’oxygène dans divers
composés.
L’étude de différents facteurs de
diffusion atomique théoriques Si4+ de la littérature a montré qu’ils
ne présentaient pas le meilleur accord possible avec les valeurs
expérimentales. Une représentation plus
adéquate se situait entre Al3+ et Si4+ de la
littérature. Par des interpolations progressives à partir de Al3+,
nous avons pu obtenir des facteurs de diffusion atomique Si4+ en
adéquation avec le cristal. Nous en donnons
la partie la plus représentative (voir figure ci-dessous).
Les conclusions sur les transferts de
charge sont basées essentiellement sur les hypothèses concernant la validité
des facteurs de diffusion théoriques. La contribution de la densité
électronique d’un atome se retrouvera dans son facteur de diffusion atomique.
D’autre part, nous utilisons les
facteurs de diffusion atomique sous forme d’une combinaison linéaire de
gaussiennes. Pour respecter la signification physique de f (b),
Il faut avoir f (b) = 0 pour b→∞. Il
faut exclure toute solution avec des B (I) négatifs ou f (b) avec une
constante.
Notre « Analyse Directe
Multipolaire » est basée sur l’utilisation d’un modèle de référence
asymptotiquement correct dans l’espace réciproque.
Dans les calculs de valeurs du
modèle, une représentation gaussienne asymptotiquement ajustée des facteurs
théoriques de diffusion atomique est utilisée pour tenir compte du terme
résiduel.
Le modèle doit être affiné pour
trouver des valeurs des paramètres atomiques et des paramètres d’agitation
thermique appropriés pour donner un modèle de référence correct.
2) Modèle de référence correct
Notre méthode d’analyse permet de
séparer les différents paramètres physiques au moyen des différentes
composantes multipolaires.
En particulier, il faut que les
positions atomiques et les paramètres thermiques d’un atome ainsi que les
paramètres de 2 atomes différents soient indépendants. Pour assurer
l’indépendance des paramètres, il faut utiliser la notion d’orthogonalité.
Soit 1, 2, 3 (Fig.1) le
système spécifique direct local adapté à la symétrie de site, formé par les
axes principaux de l’ellipsoïde thermique. Dans ce système direct local, les
paramètres appartenant aux différents termes (l, m, p) d’un même développement multipolaire sont
orthogonaux dû à l’orthogonalité des Ylmp (θ, φ).
Ainsi, une perte d’orthogonalité,
dans tous les cas, entraîne une corrélation importante des paramètres
correspondants.
-
La
composante (0 0 0) indique si la position des axes de symétrie de l’atome
coïncide avec les axes locaux (K. Kurki-Suonio (1968 (9)),
M. Kara et al. (1981(10)).
-
Les
composantes d’ordre 1 sont liées à la position des atomes.
Si le groupe spatial est
centré, mais possède des positions atomiques non déterminées par la symétrie
cristalline (K. Kurki-Suonio, 1968(9), J-P. Vidal et al.1981(11)), pour ces positions
atomiques, les composantes multipolaires d'ordres pairs constituent la partie
symétrique de la densité électronique et sont dues aux parties réelles des
facteurs atomiques alors que les composantes impaires correspondent à la
distribution antisymétrique ou parties imaginaires.
Le facteur de diffusion
relié à un
atome non positionné par la géométrie cristalline possède une partie imaginaire qui se
transcrit dans ses composantes multipolaires impaires. En fait, la phase
attribuée à cet atome dépend de la valeur x de sa position i.-e du choix du
centre de l'atome.
Une incertitude sur les
positions atomiques conduit à une incertitude sur les phases des atomes
concernés. Nous appelons cette incertitude : problème de phase local attaché à
ces atomes qui diffère complètement du
problème des phases dû à un groupe spatial non centré.
Dans le cas de SiO2, le
facteur atomique de l'oxygène a une partie imaginaire et donc une phase
différente de zéro d'où le problème de sa position x qui vient influer sur la
phase de l'oxygène : point local.
"The local phase problem" refers to the possible interpretation in
terms of "experimental
atomic factors".
The atomic factor of O2− has an imaginary part (due to the odd components) and,
thus, a non-zero phase, which in the analysis depends on x i.e. the
choice of the position of the atomic center. There is, then of course, an uncertainty
due to the uncertainty of x.
-
Les
composantes d’ordre 2 sont liées à l’agitation thermique anisotrope et
harmonique.
En particulier, la composante (2 0 1)
définit la forme de l’ellipsoïde d’agitation thermique (oblate ou prolate), la composante (2 2 1)
définit l’axe principal de l’ellipsoïde par rapport à un axe du référentiel
local (non axialité) (K. Kurki-Suonio (1977 (6)).
Les facteurs de température doivent
être adaptés aux mouvements des cœurs atomiques de façon à donner des
estimations les meilleures des termes résiduels. Ceci est atteint par une
procédure de calcul qui ajuste leurs valeurs itérativement.
Pour respecter leurs sens physiques,
la représentation des paramètres thermiques doit suivre impérativement la
représentation 4 TiO2-rutile (K. Kurki-Suonio et al. 1980 (15))
soit :
Représentation 4 à partir des déformations
en système local d’axes pour laquelle
D = [Bave + ΔBpr(1/2(3cos2θ─1))
+ ΔBna(sin2θcos2φ)](sinθ/λ)2 où θ et φ sont les coordonnées
sphériques des vecteurs du réseau réciproque dans les axes thermiques
principaux.
Bave est relié à
l’harmonique sphérique d’ordre zéro,
ΔBpr (1/2(3cos2θ─1)
à l’harmonique (2 0 +),
et ΔBna (sin2θcos2φ)
à l’harmonique (2 2 +),
Ces correspondances ne sont valables
que si les coordonnées atomiques sont prises dans le système de coordonnées
spécifiques adapté à la symétrie de site locale formé par les axes principaux
de l’ellipsoïde thermique.
On peut toutefois s’attendre à ce que
les paramètres de la densité de charge des termes dipolaires linéaires en r
puissent se corréler avec les positions, le terme monopolaire à la valeur de
Bave et les termes quadrupolaires quadratiques en r aux paramètres thermiques
anisotropes.
L’application stricte des critères
rend le risque de corrélation infinitésimal.
Les critères physiques
imposent :
-
la
composante d’ordre 0 doit être nulle à l’origine (pour assurer la coïncidence
des axes locaux avec les axes de symétrie de l’atome),
-
les
composantes d’ordre 1 (dérivées premières) doivent être aussi plates que
possible près de la position atomique,
-
les
composantes d’ordre 2 (dérivées secondes) doivent également être aussi plates
que possible pour les premières valeurs près de r = 0.
Avec ces critères physiques, nous
commençons l’affinement par itération afin d’ancrer
le modèle de référence aux grandeurs expérimentales.
La figure 2 montre les résultats
obtenus avant affinement itératif. Il est évident que des corrections sur la
position atomique de O2─ et les paramètres thermiques des 2 ions
sous forme Bave, ΔBpr, ΔBna étaient nécessaires.
En quelques cycles d’itération, le
modèle théorique de départ est devenu le modèle de référence correct en
adéquation avec le cristal.
Le modèle de référence correct utilisé correspond à :
Position de O2─ (x, x, 0) avec x= 0.3064352 soit xa= 1.28Å
Paramètres thermiques en axes locaux
Pour Si4+ Bave
= 0,03764 Å2 ΔBpr
= ─ 0,0225 Å2 ΔBna =
0,0195 Å2
Pour O2─ Bave = 0,145 Å2 ΔBpr = ─ 0,03415 Å2 ΔBna = 0,0174 Å2
Analyse Directe Multipolaire
Comme notre Analyse Directe
Multipolaire est basée sur un modèle de référence correct et asymptotiquement
valable dans l’espace réciproque, dès que la condition de validité asymptotique
est vérifiée, le modèle lui-même n’affecte pas l’interprétation des résultats
qui peuvent s’interpréter en terme de déviations des caractéristiques de la
densité de charge expérimentale par rapport à celles du modèle (grandeurs de δflmp(b)
ou δrlmp(r)) ou, quand ajoutées aux valeurs
du modèle, en terme de valeurs purement expérimentales (4πr2ρ0(r)
ou Z(r)).
Les harmoniques sphériques
Ylmp (θ, φ) sont très bien adaptées dans la formulation et la représentation
de problèmes à 3 dimensions. Il suffit de coupler les Ylmp (θ, φ) à
une fonction radiale f(r) expérimentale
propre au cristal étudié pour explorer l’univers complexe des interactions des nuages
électroniques avec leurs caractéristiques propres de symétrie de position, de
symétries d’orientation et de symétries de densités.
La représentation
multipolaire construit une vue de pièces tridimensionnelles, chacune montrant
le comportement cohérent tridimensionnel de la densité de charge d’un seul atome.
Ce n’est que sur la base de la représentation multipolaire qu’il est possible
d’assigner les détails des cartes Fourier aux différents atomes comme partie de
leur comportement intégral tridimensionnel.
Une fois le modèle de
référence correct fixé, les calculs requis pour l’analyse multipolaire des
densités de charge atomique sont triviaux.
Chaque atome est discuté
séparément sur la base du développement multipolaire adapté à la symétrie de
site de la densité de charge centré sur le site atomique.
La géométrie spatiale de SiO2 est
donnée dans la fig.1. Nous avons indiqué les différentes longueurs entre atomes
ainsi que les systèmes locaux utilisés en cours d’étude.
L’étude
a été faite jusqu’à b =2sinθ/λ = 1,1Å─1. Toute l’information sur l’effet du champ
cristallin est concentrée dans les réflexions en petits sinθ/λ. L’analyse s’est développée à
partir des sites Si4+ (1/2, 1/2, 1/2) pour le silicium et O2─
(site B fig.1) et occasionnellement O2─ (site A) pour l’oxygène.
Les valeurs des paramètres sont ceux
de A. Kirfel et al. (2001 (4)) :
a = 4,1773Å
et c = 2,6655 Å.
La valeur de x (position de l’oxygène
x, x, 0) retenue pour l’étude est celle obtenue après affinement itératif
correspondant au modèle de référence correct, x = 0.3064352.
Les figures 3 à 7 sont relatives
aux différences entre les données Fobs
et les facteurs de structure Fref du modèle de référence correct en
terme de composantes multipolaires.
1) Etude de la composante d’ordre 0
de la densité de charge atomique
Cette étude se fait sur la base des
courbes 4πr2ρ0(r)
et du nombre d’électrons contenus sous le pic atomique (intégrale de 4πr2ρ0(r)).
Les
densités radiales résultantes expérimentales autour des positions de Si4+
et de O2─ dans le cristal sont données en
comparaison avec celles du modèle de référence correct.
La
figure 3 donne les résultats obtenus. Le minimum de la courbe 4πr2ρ0(r)
donne le rayon de meilleure séparation RM. La hauteur de ce minimum
indique le degré de séparation entre les ions. Le nombre d’électrons compris
sous la courbe 4πr2ρ0(r)
pour r = RM permet de déterminer l’état d’ionisation.
Pour
Si4+, RM = 0,8Å et pour RM : Z (RM)
= 10,5 e─
pour les courbes expérimentale et théorique.
Pour
O2─,
pour la courbe théorique nous avons RM
= 1,1 Å et Z (RM)
= 8,5 e─
et
pour la courbe expérimentale RM
= 1,17 Å et Z (RM) = 9,08 e─ .
Nous constatons que la hauteur des
minimums des courbes 4πr2ρ0(r) ne permet pas
de conclure à des ions bien séparés et nous amène à penser que les atomes sont
sous la forme Si4+ et O2─ avec une certaine quantité de densité de charge en
dehors des pics atomiques. C’est un fait déjà observé dans nos différentes
études sur les oxydes comprenant O2─.
Nous avons tracé sur les courbes Z(r), les distances correspondant à la
situation Si4+ (10 e─) et O2─ (10 e─). Il est à signaler que l’ensemble des électrons de O2─ est contenu dans une sphère de rayon 1,31Å.
Sur la base de ces figures, RSi
= 1 Å et RO = 1,3 Å furent choisis comme rayons pour les sphères
partitives nécessaires aux calculs des δflmp (b). Ces valeurs sont
généralement plus grandes que les rayons de meilleure séparation définis par le
minimum de ces courbes afin d’étudier les recouvrements de densité
électronique. Ce rayon « trop grand » s’étend clairement dans la
région des premiers voisins mais contient le modèle de déformation plus
complètement.
2) Etude de l’ensemble des
composantes multipolaires dans l’espace réciproque
Nous avons calculé les composantes
multipolaires δflmp (b) jusqu’à l’ordre 4 dans des sphères de rayons
1 Å pour Si4+ et 1,3 Å pour O2─.
La figure 4 concerne Si4+.
Les seules composantes compatibles avec sa symétrie de site sont :
(0 0 0), (2 0 1), (2 2 1), (4 0 1), (4 2 1), (4 4 1)
La
figure 5 est relative à l’ion O2─. Les composantes compatibles avec sa symétrie de site sont :
(0 0 0), (1 1 -1), (2 0 1), (2 2 1), (3 1 – 1), (3 3 -1), (4 0
1), (4 2 1), (4 4 1)
Pour
Si4+, seules les composantes (401) et (421) sont effectives.
Pour
O2─, les composantes (1 1 -1), (2 2 1),
(3 1 -1) caractérisent l’environnement de l’ion oxygène. Les autres composantes
sont peu significatives.
Les fig. 4 et 5 présentent en terme
de déviations par rapport au modèle de référence
correct, les δflmp(b) des
facteurs radiaux de diffusion atomique.
En raison de la normalisation des
harmoniques sphériques à la valeur maximale 1, les courbes donnent directement
la contribution maximale (à multiplier par 2 pour Si et par 4 pour O pour la
maille) de la composante des facteurs de structure du cristal comme une
fonction du vecteur de l’espace réciproque b=2sinθ/λ.
3) Etude de l’ensemble des
composantes multipolaires dans l’espace direct
Pour visualiser et rendre
l’interprétation plus facile, les mêmes composantes que δflmp(b) sont aussi représentées dans l’espace direct.
Nous avons calculé les composantes δrlmp(r) pour les 2 ions.
Ces composantes multipolaires
indiquent les accumulations de charge autour des sites ioniques.
Là aussi, les courbes représentent
les déviations par rapport au modèle de référence correct.
Outre les déplacements de charge
correspondant aux directions indiquées par les composantes, nous pouvons
vérifier que les critères physiques utilisés lors de l’élaboration du modèle de
référence correct sont bien remplis.
Sur la figure 6 (Si4+), la composante d’ordre 0 est bien
nulle en r = 0. Les composantes d’ordre 2 sont aussi plates que possible pour r
petits. Nous pouvons attribuer les composantes (4 0 1), (4 2 1) à des
transferts de charge conséquents.
Pour Si4+, la présence d’une composante (421)
importante va à l’encontre d’une possible symétrie approchée m3m.
Sur la fig.7 (O2─), les composantes (0 0 0), (1 1 -1), (2 0 1), (2 2 1)
remplissent les critères utilisés. Les transferts de charge concernent plus
particulièrement les composantes (1 1 -1), (2 2 1), (3 1 -1).
Pour quantifier les déformations
électroniques observées, nous avons calculé le nombre d’électrons participant à
ces déformations.
La normalisation utilisée est telle
que les surfaces sous les courbes donnent le nombre d’électrons sous les lobes
positifs des harmoniques sphériques DVD
(Vidal et al. 1995 (12)) en streaming Version française « Visualisation 3D des harmoniques sphériques, cubiques et
icosaédriques » / and English version second part "Visualization
of Spherical, Cubic and Icosahedral Harmonics" Visualisation
3D d'harmoniques sphériques, cubiques et icosaédriques
pour des rayons Ri
choisis. Ces nombres d’électrons ”multipolaires” servent comme caractéristiques
intégrales multipolaires des
distributions de charge ionique (voir tableau ci-dessous).
Tableau 1
Les rayons
correspondants aux états ioniques de Si4+ et O2─ sont
respectivement : 0,67Å et 1,31 Å.
Les Z (r)
sont reliés au nombre d’électrons participant aux déplacements angulaires.
4) Visualisation dans l’espace direct
Pour une visualisation et une
meilleure interprétation, nous avons illustré ces résultats au moyen de
planches 2D et 3D. Les résultats sont représentés dans les planches 1 à 10 en
terme de densités différences représentant les développements multipolaires
autour des sites ioniques à partir de leurs composantes des figures 3 à 7.
Par un calcul point par point de la
densité électronique, il est possible de reconstituer les volumes des densités
électroniques autour de chaque ion. A partir de ces volumes, nous pouvons
obtenir des plans ou des volumes.
La planche 1 montre différents plans
centrés sur un seul site atomique. La forme de (O2─) est caractéristique.
Les planches 2 et 3 (Si4+) présentent une rotation autour de z
partant du plan (110) jusqu’au plan (1-10).
La planche 4 (O2─) montre une rotation plus rapide autour de z allant
du plan (110) au plan (1-10).
Les planches 5 et 6 associent les
plans déjà vus au volume total de l’ion considéré. Cette superposition explique
bien ce que l’on voit sur les plans et précise le volume occupé par chaque ion.
La planche 7 est relative au seul
volume de la densité différence centré soit sur Si4+ soit sur O2─. Pour une meilleure compréhension, nous présentons le
½ volume centré alternativement sur un des 2 ions.
La planche 8 ne concerne que des
plans, la planche 9 reprend la planche 8 en y ajoutant les ½ volumes associés.
Pour raison d’échelle, nous avons pris le même rayon d’exploration pour Si4+
et O2─.
Enfin, la planche 10 est une
reconstitution du plan (110) « multipolaire » à l’aide de la
représentation multipolaire (atome par atome) des atomes situés dans le plan
(110) du cristal.
A la vue de l’ensemble de ces
planches, nous avons une compréhension complète des caractéristiques des ions
dans le cristal.
Représentation Fourier
Il est à signaler que ce n’est que
sur la base de la représentation multipolaire qu’il est possible d’assigner les
détails des cartes Fourier aux différents atomes comme partie de leur
comportement intégral tridimensionnel.
Illustration de l’espace direct par
cartes Fourier de densités différences
Afin de considérer l’ensemble du
cristal, nous visualisons les cartes Fourier de densités différences basées sur
Fobs─ Fref.
- Les planches 11 à 13 ont pour
centre l’atome Si.
La planche 11 concerne la
représentation du plan (1-10). L’axe z est toujours dirigé vers le haut pour différentes tailles du volume étudié.
Après l’étude des planches en représentation multipolaire, la position des
différents atomes est facilement reconnaissable.
Aux planches 12 et 13, nous avons
ajouté un ½ volume pour suivre la construction des accumulations de charge dans
le cristal.
- Les planches 14 à 16 ont pour
centre l’atome d’oxygène (site B).
La planche 17 associe plans et
volumes et montre l’édification du réseau de la densité électronique O2─ dans le cristal.
Pour le plan (001), au niveau c/2, le point noir central est Si.
Ensuite, les ronds bleus verts sont
les oxygènes :
au niveau c/2 : A et B,
au niveau c : C et D et pour le niveau 0 : F et E
(Fig.1).
Remarques
L’emploi des séries différences
nécessite l’élaboration d’un modèle de référence correct donnant une
représentation correcte du cristal au-delà du point d’arrêt des mesures i-e du
cut off.
L’obtention des grandeurs physiques
impose un calcul de la série complète et, par conséquent, la connaissance du
terme résiduel. Ainsi, la grandeur physique d’abord évaluée théoriquement
devient ensuite expérimentale en introduisant les résultats de la série
différence de coefficients Fobs ─ Fref.
Une représentation gaussienne du
facteur de diffusion atomique théorique f (b) donne des termes résiduels
suffisamment exacts à condition qu’il soit en adéquation avec les données expérimentales.
Pour l’analyse multipolaire, nous
avons appliqué les critères pour l’ancrage
des Fref sur les valeurs observées. Cet ancrage est indispensable
pour donner un sens physique aux composantes multipolaires.
Un des avantages de l’analyse directe
multipolaire est qu’elle traite l’information expérimentale sans lui faire
subir de modifications en cours d’étude.
Espace direct ordre zéro
La densité radiale de charge 4πr2ρ0(r)
rend compte de l’accumulation de charge électronique autour des positions
atomiques et définit, dans l’espace, l’atome considéré.
Simultanément,
le calcul de l’aire délimitée par la courbe 4πr2ρ0(r)
ou nombre d’électrons appartenant au pic atomique est effectué pour différents
rayons. L’allure de la courbe expérimentale 4πr2ρ0(r)
indique de quelle façon le cristal peut être décomposé en contributions
atomiques.
Le
fort redressement de la courbe suivant le minimum de 4πr2ρ0(r)
est dû à l’influence des atomes environnants.
Trouver 9 électrons pour le rayon de
meilleure séparation RM (O2─) est une valeur déjà
constatée lors de nos différentes études. Ceci semble prouver que 9 électrons
se positionnent autour du site atomique à l’intérieur d’une sphère, le 10ème
électron de O2─ étant réparti plus largement dans l’espace
interatomique et subissant des
déformations importantes dues au champ cristallin.
Le rayon de meilleure séparation RM
= 0,8Å pour Si indique déjà devant la petite taille de Si4+ (10
e) un recouvrement de la part de l’oxygène.
Dans l’espace réciproque, les δflmp
présentent les déformations.
Le calcul des composantes des
harmoniques sphériques implique la connaissance du rayon de la sphère atomique
RA. Pour tenir compte de la charge électronique dispersée dans
l’espace interatomique, RA
est choisi un peu plus grand que les rayons de meilleure séparation RM.
Des contributions raisonnables des
atomes avoisinants n’ont pas d’effet majeur sur les densités radiales de charge
ou les facteurs de diffusion radiaux. Par conséquent, les facteurs de diffusion
δflmp calculés pour une sphère un peu trop grande conduiront à une
interprétation valable de la distribution électronique en terme d’atomes
déformés.
Pour Si, les composantes d’ordre supérieur à
zéro présentent de faibles déformations et donc peu d’asphéricités. La
composante (421) indique un transfert de charge le long de l’axe 2 de la figure
1.
Pour l’oxygène, les composantes (11-1) (221) et
(31-1) appartiennent à l’ion oxygène. Elles décrivent les déformations
spécifiques de O2─ dans le réseau cristallin.
Sur la seule base des δflmp, l’interprétation totale des transferts de charge est complète, néanmoins il faut avoir une image mentale des
harmoniques sphériques présente à l’esprit (Vidal et
al. 1995 (12)) en streaming Version française « Visualisation 3D des harmoniques sphériques, cubiques et
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3D d'harmoniques sphériques, cubiques et icosaédriques.
Dans l’espace direct, les δρlmp ne sont que des illustrations des δflmp
Pour Si, les composantes d’ordre 2 sont
négligeables. Les composantes (401) et (421) ont des valeurs significatives,
leurs maximums respectifs à 0,9 et 1,1 Å de la position atomique de Si
indiquent qu’elles ne sont pas attribuables au seul Si.
Pour O2─, la situation est plus claire. Il ne
fait aucun doute que c’est l’oxygène qui se déforme.
Pour caractériser des quantités
« intégrales » des composantes multipolaires, le tableau 1 donnant le
nombre d’électrons sous les lobes positifs des harmoniques sphériques précise
la « force des déformations » dans le cristal.
Si on se réfère à Si4+ et
O2─ 10 électrons chacun, les déformations de Si4+ sont
quasiment insignifiantes alors que celles d’O2─ sont conséquentes
(voir tableau 1). C’est l’oxygène qui, en se déformant, enchâsse le silicium.
Ce dernier ne sert que d’agent stabilisant.
L’image finale du réseau de SiO2
montre un réseau d’oxygènes très fortement liés entre eux, O2─ se
stabilisant grâce à la présence de Si4+.
Visualisations
La visualisation
« multipolaire » apporte une
aide précieuse à la connaissance des mécanismes de la distribution des densités
électroniques atome par atome.
Les représentations 2D et 3D de la
distribution électronique ne servent que de visualisation utile aux résultats
de recherche préalablement établis. Elles permettent de restituer rapidement
l’information pertinente et de diminuer le degré d’abstraction sur les
résultats. Ainsi, les phénomènes physiques d’isodensités électroniques et au
volume de localisation limité par une surface d’isodensité électronique sont
pleinement perçus et mis en lumière.
Pour une même valeur d’isodensité, il
n’y a pas de correspondance entre la représentation multipolaire et la
représentation Fourier. La première se rapporte à la contribution d’un seul
atome, la deuxième correspond à la contribution de l’ensemble des atomes.
Nous remercions le Pr. A. Kirfel pour
l’envoi des données RX et des documents afférents.
Références
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Vidéo - Canal-U
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